德国EPK MSOFT41 数据分析软件 |for-4100|for-4100-上海双旭电子有限公司

德国EPK MSOFT41 数据分析软件 |for-4100|

产品型号： for-4100

所属分类：超声波测厚仪

产品时间：2024-07-23

简要描述：德国EPK MSOFT41 数据分析软件 |for-4100|
详细介绍
供MiniTest 1100/2100/3100/4100 选配测头
测头 F05 （铁基体涂镀层 Z小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um）
测头 F3 （铁基体涂镀层 Z小测量面积直径5mm 0-3000um，低端分辨率0.2um）
测头 F1.6 （铁基体涂镀层

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德国EPK MSOFT41 数据分析软件 |for-4100|

详细介绍

供MiniTest 1100/2100/3100/4100 选配测头
测头 F05	（铁基体涂镀层 zui小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um）
测头 F3	（铁基体涂镀层 zui小测量面积直径5mm 0-3000um，低端分辨率0.2um）
测头 F1.6	（铁基体涂镀层 0-1600um，低端分辨率0.1um）
测头 F1.6P	（铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um，低端分辨率0.1um）
测头 F1.6/90	（铁基体涂镀层测管内壁 0-1600um，低端分辨率0.1um）
测头 F10/2,F20	（铁基体涂镀层 zui小测量面积直径20mm. 40mm. 0-10mm,分辨率5um, 0-20mm,分辨率10um）
测头 F50	（铁基体涂镀层 zui小测量面积直径100m. 0-50mm，分辨率，10um）
测头 FN1.6	（铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um）
测头 FN1.6P	（铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um）
测头 N02	（铜铝基体涂层 zui小测量面积直径2mm 0-200um，分辨率，0.1um）
测头 N08 Cr	（铜基体上镀铬层 0-800um,分辨率0.1um）
测头 N02 Tu	（铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um）
用于测头N02 Tu的支架
测头 N1.6	（铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um）
测头 N1.6/90	（铜铝基体涂层测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um）
测头 N10/2,N20	（铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um）
测头 N100	（铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um）
测头 CN 02	（敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um）
RS232 接口电缆 for 2100/4100	配MiniTest 1100/2100/3100/4100 （用于连接个人电脑）
MSOFT41 数据分析软件 for 4100	配MiniTest 1100/2100/3100/4100 （用于连接个人电脑）

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